XTDIC系统结合数字图像相关技术（DIC）与双目立体视觉技术，通过追踪物体表面的散斑图像，实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量；与双目立体式显微镜技术结合实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量。